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软基底薄膜热敏电阻器的失效分析

Research on Failure Analysis of Flexible Substrate Thin-film Thermistor

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【作者】 周立军谢军孙承松

【Author】 Zhou Lijun;Xie Jun;Sun Chengsong(Shenyang Polytechnic University)

【机构】 沈阳工业大学

【摘要】 对软基底薄膜热敏电阻器的可靠试验进行了研究,由试验数据找出失效原因,并提出改进措施。

【Abstract】 Reliability test of flexible substrate thin-film thermistor is researched. The reasons of failure from the testing date are found and improved advices are pointed out.

【基金】 “八五”国家重点科技攻关项目
  • 【文献出处】 传感器技术 ,JOURNAL OF TRANSDUCER TECHNOLOGY , 编辑部邮箱 ,1996年06期
  • 【分类号】TP212
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