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扩展电阻探针在硅材料研究上的应用
【摘要】 主要描述了扩展电阻探针在确定硅片电阻率的微区分布、硅片中施主态氧沉淀的微观分布,及经氧外扩散后,硅片表面区中间隙氧分布等方面的应用。
- 【文献出处】 半导体技术 ,SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY , 编辑部邮箱 ,1996年06期
- 【分类号】TN304.12
- 【被引频次】3
- 【下载频次】142
【摘要】 主要描述了扩展电阻探针在确定硅片电阻率的微区分布、硅片中施主态氧沉淀的微观分布,及经氧外扩散后,硅片表面区中间隙氧分布等方面的应用。