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高电压的光测方法探讨

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【作者】 王怡录赵军良李宝华

【机构】 焦作工学院

【摘要】 本文探讨了利用晶体的Pockels效应来测量高电压的技术。该技术与传统的各种高电压测量技术相比,具有测量系统体积小,造价低,与被测电压之间可实现安全隔离等优点。因此,该技术对于工矿企业具有广阔的应用前景。

【关键词】 效应高电压光学测量
  • 【分类号】TM835
  • 【被引频次】1
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