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应用球状晶片聚焦斜探头测定倾斜裂纹倾角和倾斜长度

Measurement of the Angle and Length of Oblique Cracks Using Spherical Wafer Focal Probe

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【作者】 李智明马殿中

【机构】 天津市锅检所天津市劳动局

【摘要】 <正> 1 前言 近年来,由于断裂力学的迅速发展及其在工程中的应用,对无损检测也提出了更高的要求,特别是对于带缺陷服役的构件,其强度和寿命的可靠性评价工作显得尤为重要,它不只是满足于仅仅了解缺陷的存在,而且还需要比较精确地掌握缺陷的性质、大小和取向。特别是缺陷的取向,它决定了缺陷在构件运行中产

  • 【文献出处】 压力容器 ,Pressure Vessel Technology , 编辑部邮箱 ,1995年03期
  • 【分类号】TB121
  • 【下载频次】24
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