节点文献

薄膜全耗尽SOI MOSFET单晶体管Latch效应

The Single Transistor Latch Effect of Thin Film Fully Depleted SOI MOSFET

  • 推荐 CAJ下载
  • PDF下载
  • 不支持迅雷等下载工具,请取消加速工具后下载。

【作者】 魏丽琼程玉华孙玉秀阎桂珍李映雪武国英王阳元

【Author】 Wei Liqiong;Cheng Yuhua et al.,(Institute of Microelectronics, Peking University, beijing 100871)

【机构】 北京大学微电子学研究所

【摘要】 本文在详细分析各种不同条件下全耗尽MOSFET单晶体管Latch效应测试结果的基础上,较为详细地讨论了单晶体管Latch效应的物理机理,发现单管Latch效应与MOSFET的寄生双极晶体管有着极其密切的关系,最后还给出了相应的改进措施。

【Abstract】 On the basis of the analysis ofmeasurement results offulldepletedMOSFET, the mechanism of single transistor latch effect was detailed to discuss. The single transistor latch effect is causedbythe parasitic bipolar transistor. At last, the methods to reduce the latch effect was obtained.

【关键词】 Latch绝缘体上硅全耗尽
【Key words】 LATCHSOIFully depleted
  • 【文献出处】 微电子学与计算机 ,MICROELECTRONICS & COMPUTER , 编辑部邮箱 ,1995年02期
  • 【分类号】TN401
  • 【被引频次】2
  • 【下载频次】81
节点文献中: 

本文链接的文献网络图示:

本文的引文网络