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电子束蒸发氧化钨薄膜电致变色性能的研究

STUDY OF THE ELECTROCHROMIC PERFORMANCE OF TUNGSTEN OXIDE FILMS BY ELECTRON BEAM EVAPORATION

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【作者】 陈国平黄惠芬陈公乃李建军傅小妃刘云峰

【Author】 Chen Guoping;Huang Huifen;Ghen Gongnai;Li Jianjun;Fu Xiaofei;Liu Yunfeng(Thin Films Research Institute of Southeast University, Nanjian 210018)

【机构】 东南大学薄膜研究所

【摘要】 报道了电子束蒸发制备的氧化钨薄膜的电致变色特性和开关寿命,给出了电极电压和电解液浓度对氧化钨薄膜电致变色性能的影响。

【Abstract】 The electrochromic characteristics and switching durability of tungsten oxide films by electron beam evaporation are presented. The effects of electrode voltage and electrolyte concentration on electrochromic performance of tungsten oxide films are discussed.

  • 【文献出处】 太阳能学报 ,ACTA ENERGIAE SOLARIS SINICA , 编辑部邮箱 ,1995年02期
  • 【分类号】TM215.3
  • 【被引频次】14
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