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基于隧道效应的纳米级轮廓仪

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【作者】 李文菊张鸿海师汉民陈日耀

【机构】 华中理工大学机械学院

【摘要】 介绍了一种利用量子力学中隧道效应原理工作的纳米级轮廓仪.它可对直径为130mm的光盘、磁盘等较大工件表面直接进行测量,扫描范围为1×1~140×140μm2,X,Y方向扫描步长为1~800nm可调,横向分辨率达几个纳米,纵向分辨率优于1nm.利用该装置已测得精密光栅、精磨祥块、金刚石镜面车削等表面的纳米级形貌.

【基金】 国家自然科学基金
  • 【文献出处】 航空精密制造技术 ,AVIATION PRECISION MANUFACTURING TECHNOLOGY , 编辑部邮箱 ,1995年04期
  • 【分类号】TG84
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