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原子力显微镜

An Atomic Force Microscope

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【作者】 张亦奕贺节商广义姚骏恩

【Author】 Zhang Yiyi; He Jie; Shang Guangyi;Yao Junen(Beijing Laboratory of Electron Microscopy,Academia Sinica,Beijing100080)

【机构】 中国科学院北京电子显微镜实验室

【摘要】 研制成功了一台使用光学偏转法检测的原子力显微镜,通过对云母、光栅、光盘等样品的观测证明仪器达到原子分辨率,最大扫描范围可达7μm×7μm。文中将对这台原子力显微镜的原理、结构及一些应用结果进行讨论。

【Abstract】 An atomic force microscope based on the optical level detection method hasbeen developed and atomic resolution is achieved. The scanning range is 7 Urn × 7 μm.images of mica. optical grating and compact stamper are shown. In this paper thetheory,construunction and experiment results are described.

  • 【文献出处】 光学学报 ,ACTA OPTICA SINICA , 编辑部邮箱 ,1995年01期
  • 【分类号】TN16
  • 【被引频次】41
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