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改善微波功率管小电流特性的模拟分析

A Simulation Study for Improving Low Current Characteristics in Microwave Power Transistors

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【作者】 林绪伦朱恩均

【Author】 Lin Xulun(Institute of Microelectronics,Peking University,Beijing 100871)Zhu Enjun(Maipu Microwave Device,Co,Post Box 8070,Beijing 100088)

【机构】 北京大学微电子学研究所

【摘要】 对于新型N ̄+IP发射结结构的微波功率管,采用一维数值模拟,分区计算了它的渡越时间,结果表明其截止频率的小电流特性可以获得明显的改善。

【Abstract】 The transit times in the silicon microwave power transistors with the novel structure of N+IP emitter are regionally calculated by one-dimensional numerical simulation. The results indicate that its low current characteristics of the cut-off frequency f_T can be obviously improved.

【关键词】 微波功率管渡越时间模拟
【Key words】 Microwave power transistorsTransit timeSimulation
  • 【文献出处】 电子学报 ,ACTA ELECTRONICA SINICA , 编辑部邮箱 ,1995年05期
  • 【分类号】TN323.4
  • 【被引频次】1
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