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功率器件的二次击穿无损坏测试技术

Nondestructive Test Technique for Second Breakdown of Power Devices

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【作者】 周友昆

【机构】 西安电力电子技术研究所

【摘要】 通过对功率晶体管二次击穿机理的分析和安全工作区的划分,提出了可行的无损坏二次击穿测试技术和无损坏二次击穿测试电路.该技术也适用于其他有二次击穿问题的器件。

【关键词】 晶体管二次击穿安全工作区测试
  • 【文献出处】 电力电子技术 ,POWER ELECTRONICS , 编辑部邮箱 ,1995年01期
  • 【分类号】TN606
  • 【被引频次】3
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