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智能仪表中单片机掉电保护设计

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【作者】 钱毅； 汤中于；

【机构】 中国矿业大学；

【摘要】 本文介绍了低功耗ＣＨＭＯＳ型单片机８０Ｃ３１（５１）在智能仪表中应用时的数据掉电保护功能设计原则及一例实用电路。

【关键词】 掉电； 保护； 可靠； 设计； 复位；
  • 【文献出处】 电测与仪表 ,ELECTRICAL MEASUREMENT & INSTRUMENTATION , 编辑部邮箱 ,1995年11期
  • 【分类号】TP216
  • 【被引频次】1
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