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双向过零鉴相技术与实现

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【作者】 潘文诚

【机构】 湖州市计量检定测试研究所

【摘要】 本文在论述单向过零鉴相的缺陷后提出前后沿平均鉴相和脉冲中心点鉴相两种双向过零鉴相技术的原理。最后介绍了用8098单片机的HSI部件实现双向过零中心点鉴相进行精密相位测量的方法。

【关键词】 鉴相器技术
  • 【文献出处】 电测与仪表 ,ELECTRICAL MEASUREMENT & INSTRUMENTATION , 编辑部邮箱 ,1995年06期
  • 【分类号】TN763.3
  • 【被引频次】8
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