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磁力显微镜在磁记录薄膜研究中的应用
【摘要】 首次使用磁力显微镜(MagneticForceMicroscope)观察和分析了化学镇CoNiMnP垂直磁记录膜的磁畴结构,讨论了范德瓦尔斯力对MFM成像的影响,并结合膜的形貌和磁滞回线讨论了其作为高密度磁记录介质的可能性
【基金】 国家自然科学基金!50201012
- 【文献出处】 磁记录材料 ,Magnetic Recording Materiais , 编辑部邮箱 ,1995年01期
- 【分类号】TQ58
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