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薄膜磁阻效应自动测试方法的研究

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【作者】 胡用时； 郑远开； 张德明；

【机构】 华中理工大学固体电子学系；

【摘要】 介绍了磁性薄膜磁阻效应自动测试方法．实验中采用单片机８０３１来模拟三角波输出而产生超低频扫场电源，用平面直列式四探针测量磁阻，测试数据通过Ｘ－Ｙ记录仪记录下来，从而对薄膜的磁阻效应实现自动测试．

【关键词】 薄膜； 磁阻效应； 单片机； 恒流；
  • 【文献出处】 磁性材料及器件 ,JOURNAL OF MAGNETIC MATERIALS AND DEUICES , 编辑部邮箱 ,1995年01期
  • 【分类号】TN304.055
  • 【被引频次】1
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