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可控硅触发特性参数测试仪的设计与制作
【摘要】 可控硅触发特性参数测试仪的设计与制作先明（成都大学成都６１００８１）自一九五四年美国贝尔实验室皮尔逊（Ｇｅｒａｌｄ，Ｐｅａｒｓｏｎ）根据肖克莱（Ｗｉｌｌｉａｎ，Ｓｈｏｃｋｄｅｙ）理论制成世界上第一只可控硅以来，由于可控硅特有的优点，从很小的儿童玩具到...
- 【文献出处】 成都大学学报(自然科学版) ,ACTA SCIENTIARUM NATURALIUM UNIVERSITATIS CHENGDUENSIS , 编辑部邮箱 ,1995年02期
- 【分类号】TN340.7
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