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8O31单片机控制的74系列集成电路测试仪
【摘要】 8O31单片机控制的74系列集成电路测试仪清华大学电机系林伟军,唐庆玉,梁作清,曹宇一、可行性分析由于74系列集成电路各方面的综合优势,在使用中非常广泛,但是其损坏之事时有发生,所以迫切需要有一种测试仪器,能快速测试其逻辑功能以判断是否好坏。对74系...
- 【文献出处】 中国仪器仪表 ,CHINA INSTRMENTATION , 编辑部邮箱 ,1994年06期
- 【分类号】TP368.1
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