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特征分析技术的新进展

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【作者】 刘泽坚

【机构】 上海交通大学

【摘要】 特征分析方法是数字系统测试中的一个研究课题,并且日益显示其重要意义。本文综述近年来国际上在这方面研究的新进展,其中包括特征分析技术在理论上的不断完善,特征分析中真伪混淆概率计算方面的进展,以及对近年来出现形式多样特征分析器本质的揭示等。

  • 【文献出处】 微电子测试 ,Microelectronic Test , 编辑部邮箱 ,1994年02期
  • 【分类号】TN707
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