节点文献

掺硼(B)非晶硅(a-Si:H)材料固相晶化(SPC)的研究

INVESTIGATIONS ON THE SOLID-PHASE CRYSTALLIZATION OF B-DOPED a-Si:H FILMS

  • 推荐 CAJ下载
  • PDF下载
  • 不支持迅雷等下载工具,请取消加速工具后下载。

【作者】 于振瑞耿新华孙云刘世国孙钟林徐温元

【Author】 Yu Zhen-rui;Geng Xin-hua;Sun Yun;Liu Shi-guo;Sun Zhong-lin;Xu Wen-yuan(Institute of Photoelectronic Device Technology Nankai University, Tianjin 300071)

【机构】 南开大学光电子薄膜器件与技术研究所

【摘要】 对掺硼(B)材料的固相晶化进行了研究。通过对不同掺B浓度的a-Si:H样品退火前后的X射线衍射、光吸收系数、电导率、激活能及Hall迁移率的测量发现,B原子在固相晶化过程中起晶核作用,晶化后的样品具有较高的迁移率及电导率,同时具有较大的禁带宽度。当接B浓度仅为0.17%时,晶化后样品的电导率为4.35scm-1,迁移率为140cm2V-1s-1,禁带宽度E04=2.16eV。该材料是一种较好的太阳电池窗口材料。

【Abstract】 The effects of B atoms on the solid phase crystallization of PECVD a-Si:H films is investigated by using the X-Ray diffraction,Hall measurements.optical reflection transmission measurements and conductivity measurements.It is found that the B atoms acts as nuclei in the SPC process.The crystallized films have high conductivity and high Hall mobility. The optical band gap of the crystallized films E04=2.16.This figure is larger than that of a-SiC:H window layers.The p-type Poly-Si layers prepared by SPC method is a suitable window material for solar cell.

【基金】 国家自然科学基金
  • 【文献出处】 太阳能学报 ,ACTA ENERGIAE SOLARIS SINICA , 编辑部邮箱 ,1994年02期
  • 【分类号】TM914.41
  • 【被引频次】13
  • 【下载频次】131
节点文献中: 

本文链接的文献网络图示:

本文的引文网络