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双层薄膜体系的光声位相谱研究
【摘要】 <正>近年来,光声技术(Photoacoustic technique)被广泛地用于几乎各类样品的物理、化学性质研究.而深度剖面分析也是光声技术的一个重要方面,它对样品表面光、热学和化学性质变化的测定具有很大的优势.对于光声剖面分析,我们通常测定光声信号的同相成分(PcosФ)和交相成分(PsinФ),这里P的光声信号强度,Ф为位相.而光声谱则可以PcosФ和PsinФ来表示.对于单一物质,通常Ф是不变的.但在某些体系,如过渡金属配合物,由于不
【基金】 国家自然科学基金资助项目
- 【文献出处】 科学通报 ,Chinese Science Bulletin , 编辑部邮箱 ,1994年19期
- 【分类号】O484.41
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