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失配应力引起的GaxIn1-xP外延层能带隙的移动

THE EFFECT OF MISMATCH STRAIN ON ENERGY BAND-GAP IN GaxIn1-xP EPITAXIAL LAYERS ON (100) GaAs SUBSTRATES

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【作者】 左健邢锦云李凡庆张运生张庶元许存义

【Author】 ZUO Jian; XING Ginyun; LI Fanqing; ZHANG Yunsheng; ZHANG Shuyuan and XU Cunyi(Structure Research Laboratory, University of Science and Technology of China, 230026Hefei)

【机构】 中国科学技术大学结构分析开放实验室

【摘要】 本文首次观察了用MOCVD方法生长的GaxIn1-xP外延层的能带隙移动,并给出了GaxIn1-xP外延层光荧光(PL)峰能量随组分x的变化关系,结果表明PL是探测混晶组分的简单而有效的方法之一。

【Abstract】 inter facial elastic strain induced by the lattice parameter mismatch between epilayer and substrate results in significant energy band-gap shift for GaxIn1-xP epitaxial layers.The energy band-gap shift was determined by comparing the photoluminescence peakenergies of the as-grown GaxIn1-xP layer with those from free-standing layer removed fromthe GaAs substrates. We found that photoluminescence is a accurate means to measure composition.

【关键词】 混晶能带隙光荧光
【Key words】 Mixed crystalEnergy gapPL
  • 【文献出处】 光谱学与光谱分析 ,SPECTROSCOPY AND SPECTRAL ANALYSIS , 编辑部邮箱 ,1994年03期
  • 【分类号】O471.5
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