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热丝法低温生长硅上单晶碳化硅薄膜

Growth of SiC Single Crystal Film on Si at Low Temperature by Hot Filament Chemical Vapor Deposition

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【作者】 张荣施洪涛郑有于是东何宇亮刘湘娜

【Author】 Zhang Rong; Shi Hongtao; Zheng Youdou;Yu Shidong; He Yuliang; Liu Xiangna(Department of Physics,Nanjing University , Nanjing 210008)

【机构】 南京大学物理系

【摘要】 提出了热丝化学气相淀积法,在低温(600-750℃)下成功地生长出硅上单晶碳化硅薄膜,X光衍射谱、喇曼光谱证实了外延膜的单晶结构,光致发光测量证明外延SiC材料室温下可稳定发射可见光。

【Abstract】 A new SiC film growth method- hot-filament chemical vapor deposition(HFCVD) has beendeveloped,which is successfully used to grow single crystal SiC films on Si substrates at low temperature(600-750℃). The results of X-ray diffraction analysis and Raman scattering spectroscopy indicated theexistence of a monocrystalline structure of the epilayer.Visible light emitting was observed inphotoluminescence experiments at room temperature.

【基金】 国家教委跨世纪人才专项基金,国家自然科学基金
  • 【文献出处】 高技术通讯 ,HIGH TECHNOLOGY LETTERS , 编辑部邮箱 ,1994年11期
  • 【分类号】TB43
  • 【被引频次】7
  • 【下载频次】123
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