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椭圆法用于阳极溶出伏安法测定铜的研究
Investigation on the Ellipsometry Used to Anodic Stripping Voltammetry for the Detection of Copper
【摘要】 用新物理量Vop的椭圆法定性地分析电化学体系已十分有效.鉴于椭圆法能灵敏检测电极表面0.1nm厚度物质的优点,如能用于定量电化学分析,可能提高现有电化学分析方法的检测限1个数量级以上.本文研究是否可能以及如何实际应用椭圆法于电化学定量分析.结果表明此法简单,并有满意的灵敏度.
【Abstract】 The experimental results show that the ellipsometry with a new parameter VOP could be analyzed qualitatively for the electrochemical systems effectively. The spectroscopy may raise the detection limit of quantitative electrochemical analysis to 10-10-10-11 mol/L because the surface film thickness at a range of 0. 01 ~0. 1 nm can be sensitively detected by ellipsometry.
【关键词】 椭圆法;
光学参量变化速率;
椭圆偏振谱学方法;
【Key words】 Ellipsometry; Optical tracking rate; Ellipsometric spectroscopy.;
【Key words】 Ellipsometry; Optical tracking rate; Ellipsometric spectroscopy.;
【基金】 国家自然科学基金;长春应用化学研究所电分析化学开放研究室资助课题
- 【文献出处】 分析化学 ,Chinese Journal of Analytieal Chemistry , 编辑部邮箱 ,1994年10期
- 【分类号】O657.1
- 【被引频次】8
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