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普通X-射线荧光光谱仪分辨率的改善

Resolution Enhancement for a Commercial X-Ray Spectrometer

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【作者】 吉昂刘红超石琼陶光仪

【Author】 Ji Ang , Liu Hongchao, Shi Qiong, Tao Guangyi (Shanghai Institute of Ceramics, Chinese Academy of Sciences, Shanghai 200050)

【机构】 中国科学院上海硅酸盐研究所!上海200050

【摘要】 作者为改善普通X-射线荧光光谱仪的分辨率和谱线的低能拖尾现象,于PW 1404谱仪上加了可拆卸的限制垂直发散准直器(6.5×20×50mm,片间距0.65mm)。实验结果表明:加了限制垂直发散准直器后,谱仪相对分辨率提高10%,谱仪非对称因子由1.4~1.5改善为1.0~1.18。为普通X-射线谱仪用于化学态分析提供了更为有利的条件。

【Abstract】 In order to enhance the instrumental resolution and alleviate the low energy peak tailing, a movable collimator (6. 5 mm× 20 mm × 50 mm,interpolate 0. 65 mm) was constructed and attached to a commercial X-ray spectrometer to control its vertical divergence. It can be found out;the relative resolution of instrument has increased by 10%,the value of asymmetrical factor decreased from 1. 4 -1. 5 to 1. 0-1.18. It will much advantage the commercial spectrometer to be applied in chemical state analysis.

【基金】 国家自然科学基金;中国科学院大型仪器功能扩充基金资助课题
  • 【文献出处】 分析化学 ,Chinese Journal of Analytieal Chemistry , 编辑部邮箱 ,1994年06期
  • 【分类号】O657.3
  • 【被引频次】1
  • 【下载频次】92
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