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利用扫描俄歇显微术研究碳的电子结构
【摘要】 利用扫描俄歇显微术研究碳的电子结构林清英,张燕征(冶金部钢铁研究总院,北京100081)在研究新工艺和开发新材料的过程中,往往需要了解亚微米范围的成分和结构,而目前在表面分析方法中,扫描俄歇电子显微技术(SAM)主要用于分析2nm深度内的元素。本文根...
- 【文献出处】 电子显微学报 ,JOURNAL OF CHINESE ELECTRON MICROSCOPY SOCIETY , 编辑部邮箱 ,1994年06期
- 【分类号】O613.71
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