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VLSI／ULSI可靠性的监测与模拟

MONITOR AND SIMULATION OF VLSI/ULSI RELIABILITY

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【Author】 Yang Mohua;Xiao Bin; Liu Lo(Dept. Microelec.Sci.and Eng. UEST of China Chengdu 610054)

【摘要】论述分析了现代ＶＬＳＩ／ＵＬＳＩ电路可靠性监测与模拟技术的研究进展、应用趋势以及相关的新型监测分析技术，并讨论了其研究设计与发展方向。更多还原

【Abstract】 The update VLSI/ULSI reliability techniques are overviewed and analyzed,which include the development , the trends of the application field, and the related modernmonitor techniques. And its research and trend of the evolution are also introduced.更多还原

【关键词】 VLSI／ULSI电路；可靠性；机助可靠性模拟；监测技术；失效机理；自建可靠性；
【Key words】 VLSI/ULSI circuit； reliability； computer-aided reliability (CAR)simulation monitor techniques； failure mechanism； building-in reliability；

【文献出处】电子科技大学学报 ,JOURNAL OF UNIVERSITY OF ELECTRONIC SCIENCE AND TECHNOLOGY OF CHINA , 编辑部邮箱 ,1994年02期

【分类号】TN406
【下载频次】29

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