节点文献
提高CCD尺寸测量分辨力探讨
【摘要】 本文提出了另一种解调测量法信号处理方法,理论上分析了欠阻尼的二阶低通网络近似理想解调函数的上翘特性,以提高CCD解调测量的尺寸分辨力,并分析了电路实现步骤。
- 【文献出处】 测试技术学报 ,Journal of Test and Measurement Technology , 编辑部邮箱 ,1994年S1期
- 【分类号】TN386.5
- 【被引频次】4
- 【下载频次】135
中国学术期刊网络出版总库
【摘要】 本文提出了另一种解调测量法信号处理方法,理论上分析了欠阻尼的二阶低通网络近似理想解调函数的上翘特性,以提高CCD解调测量的尺寸分辨力,并分析了电路实现步骤。