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SiC晶须形貌质量检测标准
【摘要】 本文首次提出碳化硅晶须的形貌质量检测标准，该标准包括晶须的长度、直径、长径比及晶须的表面光洁率、晶须直晶率、晶须中颗粒物含量几个方面的检测，并已在１９９３年２月被国家“８６３”高技术结构材料专家组认定，做为我国ＳｉＣ晶须产品形貌质量的检测标准。
- 【文献出处】 材料工程 ,JOURNAL OF MATERIALS ENGINEERING , 编辑部邮箱 ,1994年02期
- 【分类号】V257
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