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对夏氏(V型缺口)冲击试样尺寸测定方法的探讨
【摘要】 本文主要探讨如何绘制夏氏V型缺口冲击试样公差带放大图,以及如何利用该图与投影放大仪联合测定试样尺寸是否合格。
- 【文献出处】 物理测试 ,Physics Examination and Testing , 编辑部邮箱 ,1993年01期
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【摘要】 本文主要探讨如何绘制夏氏V型缺口冲击试样公差带放大图,以及如何利用该图与投影放大仪联合测定试样尺寸是否合格。