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酸碱滴定法测定GaP半导体工艺中所掺N浓度的研究
【摘要】 本文将酸碱滴定法用于 GaP 半导体器件的生产中,测定了半导体工艺中所掺微量元素N 的含量.结果准确,精度高,从而实现了半导体中掺 N 浓度的控制.
- 【文献出处】 甘肃教育学院学报(自然科学版) , 编辑部邮箱 ,1993年03期
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【摘要】 本文将酸碱滴定法用于 GaP 半导体器件的生产中,测定了半导体工艺中所掺微量元素N 的含量.结果准确,精度高,从而实现了半导体中掺 N 浓度的控制.