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功率晶体管直流安全工作区的描绘方法
【摘要】 本文给出了通过测试器件热阻来描绘其安全工作区的方法,采用该方法确定的安全工作区的二次击穿限比用二次击穿测试仪测得的要低,但能避免器件的损伤和永久性损坏,确定出的安全工作区是安全的.
- 【文献出处】 半导体技术 ,Semiconductor Technology , 编辑部邮箱 ,1993年02期
- 【被引频次】5
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【摘要】 本文给出了通过测试器件热阻来描绘其安全工作区的方法,采用该方法确定的安全工作区的二次击穿限比用二次击穿测试仪测得的要低,但能避免器件的损伤和永久性损坏,确定出的安全工作区是安全的.