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双参考光相移全息干涉计量

TWO-REFERENCE WAVE PHASE STEPPING HOLOGRAPHIO INTERFEROMETRY

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【作者】 郑文谭玉山

【Author】 Zheng Wen Tan Yushan (Department of Mechanical Engineering)

【机构】 西安交通大学机械工程系激光室西安交通大学机械工程系激光室

【摘要】 本文描述了一种性能优良的条纹分析系统.该系统将相移技术应用于全息干涉计量中,能自动、快速、准确地获得干涉图的相位场.分析一幅条纹图(256×256×8bit)仅需2分钟,重复精度可达±5°.

【Abstract】 A fringe pattern analysis system is presented which acquires phase distribu- tion fast and accurately by the use of phase stepping technique.It takes only 2min to get phase data (256×256×8bit) automatically with repeatability of ±5°.

【基金】 国家“七五”重点科技攻关项目
  • 【文献出处】 西安交通大学学报 ,Journal of Xi’an Jiaotong University , 编辑部邮箱 ,1992年01期
  • 【分类号】O436.1
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