节点文献
双参考光相移全息干涉计量
TWO-REFERENCE WAVE PHASE STEPPING HOLOGRAPHIO INTERFEROMETRY
【摘要】 本文描述了一种性能优良的条纹分析系统.该系统将相移技术应用于全息干涉计量中,能自动、快速、准确地获得干涉图的相位场.分析一幅条纹图(256×256×8bit)仅需2分钟,重复精度可达±5°.
【Abstract】 A fringe pattern analysis system is presented which acquires phase distribu- tion fast and accurately by the use of phase stepping technique.It takes only 2min to get phase data (256×256×8bit) automatically with repeatability of ±5°.
【基金】 国家“七五”重点科技攻关项目
- 【文献出处】 西安交通大学学报 ,Journal of Xi’an Jiaotong University , 编辑部邮箱 ,1992年01期
- 【分类号】O436.1
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