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一种由单片机控制的零件尺寸的光电检测方法
【摘要】 本文所介绍的零件尺寸检测方法,是采用电荷耦合器件CCD作为检测元的光电非接触检测方法。由于采用CCD器件及单片机数据处理,使其检测精度高、速度快、功能强。同时也较为详细地介绍了CCD测量的工作原理以及单片机与CCD的接口等。
- 【文献出处】 试验技术与试验机 ,Test Technology and Testing Machine , 编辑部邮箱 ,1992年01期
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【摘要】 本文所介绍的零件尺寸检测方法,是采用电荷耦合器件CCD作为检测元的光电非接触检测方法。由于采用CCD器件及单片机数据处理,使其检测精度高、速度快、功能强。同时也较为详细地介绍了CCD测量的工作原理以及单片机与CCD的接口等。