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利用光声相位频率谱测量多层介质的热学性质

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【作者】 孙洪伟； 沈俊； 张国民； 黄孟才；

【机构】 苏州大学； 苏州大学 苏州 215006； 苏州 215006； 苏州 215006；

【摘要】 利用锁相放大技术检测了由于激光照射而产生的光声信号的相位频率谱,并在多层介质光声理论的基础上,测量了多层介质的热学参数,结果与公认值相符合,表明了本方法在亚表面无损检测、薄膜研究等方面的应用前景。

【关键词】 多层介质； 光声； 放大技术； 亚表面； 薄膜研究； 锁相； 热学参数； 无损检测； 热学性质； 热扩散率；
  • 【文献出处】 数据采集与处理 ,Journal of Data Acquisition & Processing , 编辑部邮箱 ,1992年S1期
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