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电子衍射和X射线衍射粉末法相结合测定晶体结构
【摘要】 本文以新合成的化合物 CsE_u I_s 晶体结构的测定为例说明:由于电子衍射图可以提供晶体二维反点阵矢量的信息,在 X 射线粉末法难以唯一确定晶体结构时,有助于此问题的解决。在得不到合适的单晶的情况下,采用 X 射线粉末法和电子衍射来确定未知晶体的结构是一可取的途径。
- 【文献出处】 理化检验.物理分册 ,Physical Testing and Chemical Analysis (Part A:Physical Testing) , 编辑部邮箱 ,1992年01期
- 【分类号】O766
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