直接ICP-AES法测定4N光学级La₂O₃中铈镨钕钐

【摘要】 <正> 随着高纯稀土应用的发展,对高纯稀土氧化物中稀土杂质分析的要求越来越高。基于ICP-AES法具有检出能力好、基体效应小、精密度高、动态范围宽、自吸收效应和背景小等优点,近年来得到越来越多的分析化学工作者的重视。Ishii Hajime等曾用中阶梯光栅光谱仪和二阶导数光谱技术测定了La₂O₅中14种稀土杂质,其检出限为1～10μg·g^-1。朴哲秀等采用色散率较小的平面光栅摄谱仪和简单的加热去溶装置测定高纯La:O₃中14种稀土杂质,测定下限为0.4～20μ·g^-1(基体浓度10mg·ml^-1)。本文采用GP₆一DL₂型高频发生器和W-100型一米平面光栅摄谱仪组装成的ICP-AES装置,1次摄谱同时测定了4N光学级La₂O₃中Ce、Pr、Nd和Sm。在本试验条件下,方法的测定下限为1～3μg·g^-1(La₂O₃浓度10mg·ml^-1),回收率为93%～109%,相对标准偏差<10%。更多还原