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北京同步辐射实验室X光形貌学研究的光源特性及实验应用

Light Source for Synchrotron Radiation X-Ray Topography Study at Beijing Syncrotron Radiation Laboratory (BSRL)

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【作者】 赵际勇杨平蒋建华田玉莲韩勇王春喜石才土冼鼎昌

【Author】 ZHAO JIYONG~1) YANG PING~2) JIANG JIANHUA~1) TIAN YULIAN~1) HAN YONG~1) WANG CHUNXI~1) SHI CAITU~1) XIAN DINGCHANG~1) 1) (Synchrotron Radiation Laboratory, Institute of High Energy Physics, Beijing 100039) 2) (Laboratory of Solid State Microstructure, Nanjing University, Nanjing 210008)

【机构】 中国科学院高能物理研究所南京大学固体微结构实验室中国科学院高能物理研究所 北京 100039南京 210008北京 100039

【摘要】 本文讨论了北京同步辐射实验室X光形貌站相应的光源特性,给出了在该状态下的形貌分辨率以及对四硼酸锂晶体白光形貌衍射强度的计算结果。

【Abstract】 Characteristics of the synchrotron radiation source for X-ray topography study at Beijing Synchrotron Radiation Laboratory (BSRL) is described in this paper, local geometrical resolution of topographs is discussed, the diffracting intensities of white beam topography is given.

【关键词】 同步辐射衍射强度束线衍射斑四硼酸储存环光强衍射光BEPC对撞
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