节点文献
一种测量残余应力沿表面层深度分布的有效方法
【摘要】 本文介绍了利用X射线衍射测量残余应力沿表面层深度分布的一种方法。此方法可用于测量各种表面强化工艺或材料去除工艺所产生的残余应力沿层深的分布规律,其测量结果与剥层法基本一致。
- 【文献出处】 航空工艺技术 , 编辑部邮箱 ,1992年04期
- 【被引频次】1
- 【下载频次】166
中国学术期刊网络出版总库
【摘要】 本文介绍了利用X射线衍射测量残余应力沿表面层深度分布的一种方法。此方法可用于测量各种表面强化工艺或材料去除工艺所产生的残余应力沿层深的分布规律,其测量结果与剥层法基本一致。