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随机存储器的故障诊断

RAM’s Faults Diagnosis

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【作者】 王辉军； 刘长欢；

【Author】 Wan Huijun;Liu Changhuan Beijing Institute of Chemical Technology Northeast Normal University

【机构】 北京化工学院； 东北师范大学；

【摘要】 用随机测试的方法进行RAM的故障诊断,给出了故障定位的算法,利用该算法能方便地对可能发生在RAM存储器中的故障进行诊断与定位。

【Abstract】 In this paper, random testing method (RT) is used to diagnose faults ofRAM. An algorithm is given for conveniently testing, diagnosing and locating variousfaults of RAM.

【关键词】 随机存储器； 故障诊断； 随机测试；
【Key words】 RAM； fqult diagnosis； random testing；
  • 【文献出处】 北京化工学院学报(自然科学版) , 编辑部邮箱 ,1992年04期
  • 【分类号】TP206.1
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