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多层W-Si薄膜及其与GaAs衬底间的界面特性

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【摘要】 本文详细叙述了多层W-Si薄膜的制备技术、生长速率、热退火对薄膜性能的影响,薄膜与GaAs衬底间的界面行为等。

  • 【文献出处】 半导体技术 ,Semiconductor Technology , 编辑部邮箱 ,1992年01期
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