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高压大功率开关晶体管少子寿命与诸电参数之间的关系及其控制技术的研究

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【作者】 郑继义；

【机构】 八七七厂 西安 710000；

【摘要】 本文研究了少子寿命与开关晶体管主要电参数之间的相互制约关系,探索了少子寿命的控制技术。

【关键词】 开关晶体管； 少子； 集电区； 控制技术； 饱和压降； 电子辐照； 金属杂质； 击穿电压； 基区； 工作结温；
  • 【文献出处】 半导体技术 ,Semiconductor Technology , 编辑部邮箱 ,1992年01期
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