节点文献

全反射X荧光分析技术(TRXF)——一种新的高灵敏度元素分析技术

  • 推荐 CAJ下载
  • PDF下载
  • 不支持迅雷等下载工具，请取消加速工具后下载。

【作者】 田宇宏；

【机构】 中国科学院近代物理研究所；

【摘要】 全反射X荧光分析技术,是一种在X 荧光分析技术基础上发展起来的全新的分析技术,其主要特征是通过反射技术去掉在通常X 荧光分析中高能散射本底的影响,提高了分析灵敏度,分析刻度简单,分析样品量少(微克量级),设备简单。于八十年代中期开始出现商品。

【关键词】 荧光分析； TRXF； 反射技术； 激发源； 八十年代； 元素分析； 分析技术； 自动分析软件； 样品用量； 样品量；
  • 【文献出处】 核物理动态 ,Nuclear Physics Review , 编辑部邮箱 ,1991年02期
  • 【下载频次】74
知网节下载
节点文献中： 

本文链接的文献网络图示:

本文的引文网络
二级参考文献(0)
参考文献(0)
共引文献(0)
节点文献
同被引文献(0)
引证文献(0)
二级引证文献(0)