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快氢分子离子在碳膜中的能量损失测量
【摘要】 <正> 六十年代初发现H2+和H+在薄膜中的能损有差异。它反应了分子离子和原子离子在碰撞过程中有不同的规律。由于在薄膜中快粒子的入射和出射能量差值很小,透射能谱有一定的展宽,这给直接测量决定能损带来困难。本工作利用高分辨库能爆炸技术(能量分辨率为1.8×10-4FWHM)直接测量了H2+和H+在薄膜中的能量损失。
【基金】 国家自然科学基金
- 【文献出处】 原子与分子物理学报 ,Chinese Journal of Atomic and Molecular Physics , 编辑部邮箱 ,1990年S1期
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