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DB—1型半导体材料禁带宽度测试装置

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【作者】 王美田； 魏希文； 于有津；

【机构】 大连理工大学； 大连理工大学；

【摘要】 <正> 一、引言半导体技术的发展必须依赖于半导体材料的发展。禁带宽度是决定半导体材料特性的一个重要参数。该参数的测定在进一步研究半导体材料的能带结构、导电特性和加快半导体技术的发展等方面具有重要的意义。DB—1型半导体材料禁带宽度测试装置的研

【关键词】 半导体材料； DB； 禁带； 测试装置； 半导体技术； 能带结构； 稳压精度； 测试系统； 弱信号检测； 光电导；
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