多晶富镉Hg_1-xCd_xTe的电沉积及Hg_0.09Cd_0.91Te薄膜的光电化学行为

【摘要】 本文研究了在酸性CdSO₄+HTeO₂⁺6HgCl₂ 电解液中多晶富镉Hg_1-x,Cd_?,Te（x>0.5）的电沉积过程,实现了三种离子在同一电位下共沉积的技术。对在钛基底上沉积出的薄膜进行XRD,SEM和EDAX分析,结果表明薄膜为闪锌矿型的多晶结构,分布均匀连续。考察了（1—x）=0.09时多晶薄膜在多硫氧化还原电对液中的光电化学行为,光强为100mW/cm²时,短路光电流I_sc=1.88mA/cm²,开路光电压V_oc=0.25V,填充因子F·F=0.22。由光电化学光谱所确定出的禁带宽度E_g=1.26eV,Mott-schottky曲线给出了电极的平带电位φfb为—1.26V（vs.SCE）,从而得到开路光电压V_oc可能达到的最大值为0.49V。因此,多晶富镉Hg_1-xCd_xTe薄膜是一种很有潜力的光活性电极材料。更多还原