节点文献

巨型功率晶体管二次击穿检测

Evaluation of Second Breakdown of Giant Power Transistor

  • 推荐 CAJ下载
  • PDF下载
  • 不支持迅雷等下载工具,请取消加速工具后下载。

【作者】 万积庆; 金庚墀;

【Author】 Wan Jiqing Department of Applied PhysicsJin Gengchi Hangzhou Institute of Electronic Technology

【机构】 湖南大学应用物理系; 杭州电子工业学院;

【摘要】 概述了双极功率晶体管二次击穿机理.介绍了二次击穿的测试电路和测试方法.讨论了降低电流型二次击穿的方法和防止电流型二次击穿的电路改进措施.

【Abstract】 Second breakdown mechanisms of bipolar power transistor is summarized. circuit and procedure for evaluating second breakdown are prcesented.Methods of reducing the stress leading to current mode second breakdown, and improving measures of preventing the current mode second breakdown are discussed.

  • 【分类号】TN 323;
  • 【下载频次】46
节点文献中: 

本文链接的文献网络图示:

本文的引文网络