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聚丙烯弯曲断口银纹
【摘要】 <正> 本文应用扫描电镜摄获了存留在聚丙烯厚试件断口上的银纹——裂纹形态。由于银纹是由拉应力作用产生的,所以一般最大主应力σ1造成的断面上很难观察到。银纹是高分子材料的一种准断裂行为。银纹研究的文献报导不少,Kambour作了大量工作。然而,绝大多数文献是对薄膜和薄板进行研究的,研究断口银纹工作的报导很少。本文观察研究了聚丙烯弯曲断品银纹。从材料力学得知,当试件承受弯矩作用时,中性面的一侧沿纵轴方向受拉应力σ1的作用,另两个主应力σ2和σ3位于横截面上。本文拍摄的银纹——裂纹形态就是由σ2的作用造成的。
- 【文献出处】 电子显微学报 ,Journal of Chinese Electron Microscopy Society , 编辑部邮箱 ,1990年03期
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