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YBa2Cu3Ox超导体的临界电流与显微结构
Microstructure and Critical Current of YBa2Cu3Ox Superconductors
【摘要】 用X光结构分析,电子显微镜（SEM）和高分辨率透射电镜（TEM）观察及电、磁测量等手段,系统地研究了烧结YBa2Cu3Ox超导体的制备工艺、显微结构与临界电流密度之间的关系,通过讨论分析,提出了主要影响临界电流密度Jc的3种界面缺陷
【Abstract】 The relationships among the conditions of preparation , the microstructure and the critical current density of sintered YBa:Cu3Ox superconductors were studied by X - ray diffraction , SEM , TEM and electrical as well as magnetic means of experimentation . Three kinds of grain boundaries are considered responsible for the detected low Jc in sintered samples .
【关键词】 超导体；
临界电流；
显微结构；
晶粒间界；
【Key words】 superconductor； critical current； microstructure； grain boundary；
【Key words】 superconductor； critical current； microstructure； grain boundary；
- 【文献出处】 北京理工大学学报 ,Journal of Beijing Institute of Technology , 编辑部邮箱 ,1990年S3期
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