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一种研究单晶硅加工表面微裂纹的新方法
【摘要】 <正> 人们研究微裂纹的方法都是对已加工的Si片表面进行必要的处理,然后才能在显微镜下观察。对Si片表面进行处理不仅繁锁,而且容易失真,也极易失败,即看不到微裂纹。本文介绍一种极为方便而且不失真的研究微裂纹的方法,克服了传统的研究微裂纹的不足之处。
- 【文献出处】 半导体技术 ,Semiconductor Technology , 编辑部邮箱 ,1990年04期
- 【被引频次】4
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【摘要】 <正> 人们研究微裂纹的方法都是对已加工的Si片表面进行必要的处理,然后才能在显微镜下观察。对Si片表面进行处理不仅繁锁,而且容易失真,也极易失败,即看不到微裂纹。本文介绍一种极为方便而且不失真的研究微裂纹的方法,克服了传统的研究微裂纹的不足之处。