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陶瓷纤维增强铝基复合材料断口的SAM和XPS分析

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【作者】 齐芸馨； 王改莲；

【机构】 五二研究所； 五二研究所 机械电子工业部第46研究所测试中心；

【摘要】 <正> 复合材料是通过界面把增强体和基体结合起来的,界面的化学组成和状态,界面层厚度对复合材料性能有重要影响。现代表面分析技术为界面研究提供了有力工具。新型的扫描俄歇探针(SAM)入射电子束的最小束斑可达35nm,可以在清晰地观察断

【关键词】 铝基复合材料； SAM； XPS分析； 断口表面； 陶瓷纤维； 复合材料性能； 俄歇探针； 界面研究； 表面分析技术； 增强体；
  • 【文献出处】 兵器材料科学与工程 ,Ordnance Material Science and Engineering , 编辑部邮箱 ,1990年11期
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