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半导体电磁脉冲防护器件性能测试

The Performance Test for EMP Protective Devices of Semiconductor

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【作者】 周绍文；

【Author】 Zhou Shaowen (Shangrai Semiconductor Device Research lnstitute)

【机构】 上海半导体器件研究所；

【摘要】 本文概述了半导体电磁脉冲防护器件的作用和性能,对表征电磁脉冲防护性能的参数及其测试方法进行详细的叙述和分析;并对应用时器件参数的选择作了讨论。

【关键词】 防护器件； 电磁脉冲； 性能测试； 器件参数； 测试方法； 瞬态电压； 防护性能； 瞬态脉冲； 大电流冲击； 峰值电压；
  • 【文献出处】 微电子学与计算机 ,Microelectronics & Computer , 编辑部邮箱 ,1989年12期
  • 【被引频次】1
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